日本日置 C測試儀 3506-10 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線(xiàn)的上也能實(shí)現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時(shí)可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量

日本日置 C測試儀 3504-40/50/60 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率